日照全光谱光谱仪来电洽谈 景颐光电厂家直售

光纤光谱仪

1859 到1862 年之间，克希霍夫和本生使用自己研制的光谱仪器，细致地研究了夫琅和费谱线，从而建立了光谱分析的初步基础。因为棱镜线色散率呈非线性，它随着波长的变化增减太快，这对光谱定性分析中测定光谱线的波长带来了很大困难。于是人们开始对另一种色散元件—衍射光栅进行研究，罗兰在 1882年发明了凹面光栅，这使得光谱仪结构得到简化，性能也有了提高。20 世纪开始，在普朗克等许多学者的共同努力下，力学理论逐步建立，使得光谱学的分析有了强有力的理论基础。全光谱光谱仪

由于克拉赫等进行了一系列的研究工作，使定量光谱分析方法基本建立起来，从此光谱分析方法逐渐走出实验室，在工业部门中被广泛应用了。从 1928 年以后，由于光谱分析成了工业的分析方法，光谱仪器得到了迅速的发展。它的改进是按两个方面进行的：改善光源的稳定性和提高光谱仪器本身的性能。全光谱光谱仪

1928 年，德国蔡司厂制造出守台石英摄谱仪，随后美国、英国、苏联等国也制造出同类产品。随着科学技术和工业的发展，棱镜光谱仪的缺点愈来愈成了势必克服的问题。因此，一方面发展人造晶体和扩大玻璃的透过波长范围；另一方面大力改善光栅刻划技术，为光栅光谱仪器的生产开拓了道路。到五十年代，已经形成完整的光谱仪器制造工业系统全光谱光谱仪

常见的光谱仪光学系统有李特洛系统、艾伯特-法斯梯光学系统、切尼-特纳（Czerny-Turner）光学系统等。其中切尼-特纳光学系统广泛使用在便携式光谱仪中。切尼-特纳（Czerny-Turner）光学系统分为两种结构类型：对称式和交叉式。全光谱光谱仪

对于便携式光纤光谱仪来说，其内部器件的选择是非常重要的，器件的类型与性能对光谱仪的性能影响是非常大的。

谱仪是一种用于对入射光成分进行测定的测量仪器，不仅要对入射光进行的色散成像，而且还应该知道所测试信号对应的波长数值，因此所有的光谱检测仪器必须进行波长定标。全光谱光谱仪

其中准直镜和成像镜的入射角对系统光谱分辨率影响非常大；准直镜与狭缝之间的距离对光谱分辨率有比较小的影响；准直镜和光栅之间的距离对光谱分辨率几乎没有影响，但对整体结构有影响；光栅和成像镜之间距离对光谱分辨率的影响较大；另外，线阵 CCD 的位置准确度非常重要。全光谱光谱仪

便携式制光纤光谱仪所能测到光强信号的强度是有限的，光强超过了光纤光谱仪所能探测的值，光纤光谱仪的ＣＣＤ中的电子会产生＂溢出＂，即在软件中看到的数据饱和现象，为了避免饱和，我们需要人为的衰减入射光的强度，使得光纤光谱仪工作在的状态。全光谱光谱仪

光纤材质的选择对于光学系统有着非常重要的影响。不同材质对不同波长的光的吸收率不同，所以，为了使得系统达到较好的效果，需要选择合适材质光纤，由于本光纤光谱仪的工作波段可能覆盖紫外到可见甚至到近红外，所以需要采用石英光纤。如果系统王作在非紫外波段，则可根据实际的波长选择玻璃、石英等材质的光纤。全光谱光谱仪